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SN74BCT8374ADW
Las imágenes son sólo para referencia. Consulte especificaciones del producto para obtener detalles del producto
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SN74BCT8374ADW

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC


fabricante: Texas Instruments

Hoja de datos: SN74BCT8374ADW

precio:

USD $10.72

Stock: 235 pcs

Parámetro del producto

serie
74BCT
embalaje
Tube
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Estatuto parcial
Active
Tipo de montaje
Surface Mount
Número de Bits
8
Paquete/caja
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Tensión de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de Base
74BCT8374
Temperatura de funcionamiento
0°C ~ 70°C
Paquete de dispositivo para el proveedor
24-SOIC

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